Система горизонтальной трансфлективной микроскопии и конфокальной спектроскопии

Система горизонтальной трансфлективной микроскопии и конфокальной спектроскопии серии IMS от компании JCOPTIX оснащена модулем освещения по Келлеру и совмещена с лазерным возбуждением, что позволяет одновременно получать изображения с равномерным освещением и проводить измерения спектров отражения/пропускания образца. Микроскоп имеет модульную конструкцию, что обеспечивает высокую степень гибкости и возможность легкой модернизации под различные задачи.

• Модуль освещения по Келлеру
• Модули просвечивающей и отражательной микроскопии и спектроскопии
• Дополнительные модули наклонного освещения
• Пользовательские модули для расширения функций системы

На рисунке ниже представлены две схемы возможного построения микроскопа, которые отличаются построением модуля перед вторым объективом.

Микроспектральная система поддерживает расширение пользовательских функций и, в зависимости от задач, позволяет выбрать источник излучения и устройство сбора информации. Магнитные держатели для светоделителей обеспечивают возможность быстрой замены на дихроические зеркала для адаптации системы под различные длины волн и задачи исследования.
Исследуемый образец закрепляется на предметном столике, установленном между двумя объективами. Предметный столик оснащен высокоточной трехосевой микромеханической подвижкой, которая позволяет осуществлять прецизионное перемещение исследуемого образца по координатам XYZ в диапазоне до 13 мм и с точностью 10 мкм.

В представленных схемах первым после объектива в систему устанавливается модуль источника белого света с коллимирующей линзой. Источник применяется для визуализации образца на предметном столике и получения сигнала отражения в широком спектральном диапазоне.

После источника белого света в схеме устанавливается модуль с камерой сфокусированной на бесконечность. С ее помощью осуществляется поиск и визуализация положения образца на предметном столике и его микрофотография.

Следующий блок служит для введения лазерного излучения в схему. Лазерное излучение позволяет значительно расширить функциональность схемы по визуализации и сканированию образца, повысить контрастность получаемого изображения и проводить флуоресцентное сканирование. В схемах на рисунке излучение, направленное на образец, показано синим цветом, излучение после взаимодействия с образцом (отражение/пропускание) показано красным.

Наличие в схеме трансфлективного микроскопа-спектрометра позволяет проводить не только качественный анализ изучаемых образцов, но и количественный по полученным спектрам отражения. Таким образом система может одновременно реализовывать функции микроскопической визуализации и спектрального детектирования и удовлетворяет самым разнообразным экспериментальным потребностям научных исследований.

Микроспектральная система может быть оснащена модулем наклонного освещения, который располагается в части схемы перед вторым объективом на рисунке. Этот модуль обеспечивает освещение образца под заданным углом. Для реализации данной функции перед объективом устанавливается диафрагма с щелью, расположенной в стороне от оптической оси. Освещение образца под углом позволяет повысить различимость прозрачных структур за счет блокирования прямого излучения источника. Это приводит к увеличению оптического контраста изображения и способствует получению изображений высокого качества без пересвета в центральной части. Таким образом, данная схема позволяет проводить исследования образцов как в светлом, так и в темном поле.

Микроскопы серии IMS представлены в двух стандартных конфигурациях, при этом модульная структура и реализация системы в горизонтальной геометрии позволяет пользователям интегрировать дополнительные модули JCOPTIX для микроскопов: источники, объективы или камеры и адаптировать систему в соответствии с индивидуальными требованиями.

Для получения информации о других функциональных возможностях и расширениях Вы можете написать нашим инженерам.